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计数数据表示通过记录所考察的子组中每个个体是否具有某种特性(或特征)，计算具有该特性的个体的数量，或记录一个单位产品、一组产品，或一定面积内此种事件发生的次数所获得的观测值。通常，计数数据的获得快速而经济，并且常常不需要专门的收集技术，表5给出了计数控制图的控制限公式。

在计量控制图情形下、按通常惯例采用一对控制图，其中一张用于控制平均值，另一张用于控制离散。上述作法是必要的，因为计量控制图基于正态分布，而正态分布取决于上述两个参数。在计数控制图情形下则不同，所假定的分布只有一个独立的参数，即平均值水平，故用一张控制图就足够了。P图和nP图基于二项分布，而c图和u图则基于泊松分布。

这些控制图的计算是类似的，但子组大小发生变化时情况将有所不同。当子组大小为常数，同一组控制限可用于每一个子组；当子组大小发生变化，则每一个子组都需要计算出各自的控制限。因此，np图和c图可用于子组大小为常数的情形，而p图和u图可用于上述两种情形。

若子组大小随子组不同而发生变化，则对于每个子组都要计算出各自单独的控制限。子组大小越小，控制域就越宽；反之亦然。如果子组大小变化不大，则可采用单一的基于平均子组大小的一组控制限。实际中，当子组大小的变化在子组大小目标值的土25%以内时，可采用上述方法。

当子组大小变化较大时，可采用另一种利用标准化变量的方法。例如，不点绘P值，而改为点绘标准化值Z；根据P的标准值是否给定，有：

这样，中心线和控制限如下所示成为常数，而与子组大小无关：

中心线=0

UCL=3

LCL=-3

P图用来确定在一段时间内所提交的平均不合格品百分数。该平均值的任何变化都会引起过程操作人员和管理者的注意。P图判断过程是否处于统计控制状态的判断方法与X和R控制图相同。若所有子组点都落在试用控制限之内，并且也未呈现出可查明原因的任何迹象，则称此过程处于统计控制状态。在这种情形下，取平均不合格品率P为不合格品率P的标准值，记为P₀。